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  • STP10DF55P2

    Le capteur thermopile infrarouge STP10DF55P2 pour la mesure de température sans contact est un capteur thermopile ayant une tension de signal de sortie directement proportionnelle à la puissance de rayonnement infrarouge (IR) incidente.Grâce à la conception anti-interférence électromagnétique, le STP10DF55P2 permet une mesure fiable même dans un environnement de rayonnement RF difficile.Le STP10DF55P2 comprenant un nouveau type de puce de capteur thermopile compatible CMOS présente une bonne sensibilité, un faible coefficient de température de sensibilité ainsi qu'une reproductibilité et une fiabilité élevées.Une puce de référence de thermistance de haute précision est également intégrée pour la compensation de la température ambiante.


    Détail du produit

    Étiquettes de produit

    Description générale

    Le capteur thermopile infrarouge STP10DF55P2 pour la mesure de température sans contact est une thermopile
    capteur ayant une tension de signal de sortie directement proportionnelle à la puissance de rayonnement infrarouge (IR) incidente.Avec le
    conception anti-interférence électromagnétique, STP10DF55P2 permet une mesure fiable même sous RF sévère
    environnement de rayonnement.
    Le STP10DF55P2 comprenant une nouvelle puce de capteur thermopile compatible CMOS présente une bonne sensibilité,
    faible coefficient de température de sensibilité ainsi qu'une reproductibilité et une fiabilité élevées.Une haute précision
    La puce de référence de la thermistance est également intégrée pour la compensation de la température ambiante.

    Caractéristiques et avantages

    • Rayonnement anti-électromagnétique
    • Haute réactivité, rapport signal/bruit élevé
    • Petite taille, haute fiabilité, boîtier métallique à 4 broches TO-46
    • Plage de températures de fonctionnement : -40 ℃ à +125 ℃

    Applications

    • Mesure de température sans contact
    • Pyromètre, Thermomètre

    Caractéristiques électriques

    29

    Caractéristiques optiques

    30

    Configurations des broches et contours des packages

    31

    Historique des révisions

    32

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